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    材料组织结构的表征
    课程类型：选修课
    发布时间：2020-02-19 10:43:07
    主讲教师：
    课程来源：
    建议学分：3.00分
    课程编码：mk000017
    课程介绍
    课程目录
    教师团队
    第一章
    s X-ray radiation （43分钟）
    s Absorption of X-ray （43分钟）
    s X-ray tale and Safty issues （39分钟）
    s Bragg's Law （44分钟）
    s Edward sphere （42分钟）
    s Practical diffraction methods （42分钟）
    s Structure factor （39分钟）
    s Zntensity of diffraction （43分钟）
    s Diffraction Zntensity （43分钟）
    s Powder X-ray diffraction （44分钟）
    s Powder X-ray diffraction2 （42分钟）
    s Powder X-ray diffraction3 （41分钟）
    s Lattice constant determination （43分钟）
    s Lattice constant determination2 （32分钟）
    s Residual Stress-Strain by X-ray （42分钟）
    s Residual Stress-Strain by X-ray2 （43分钟）
    s Optical basic knowledge （43分钟）
    s Optical basic knowledge2 （44分钟）
    s Sample Preparation （40分钟）
    s Sample Preparation2 （39分钟）
    s Interpretation of XRD homework （43分钟）
    s Image mode （42分钟）
    s Image mode2 （45分钟）
    第二章
    s 扫描电镜 （40分钟）
    s 扫描电镜2 （42分钟）
    s 扫描电镜3 （42分钟）
    s 扫描电镜4 （40分钟）
    s 扫描电镜5 （49分钟）
    s 扫描电镜6 （36分钟）
    s 扫描电镜7 （40分钟）
    s 习题 （30分钟）
    第三章
    s Electron optics of TEM （45分钟）
    s Electron optics of TEM2 （41分钟）
    s Electron optics of TEM3 （43分钟）
    s Specimen preparation for TEM （41分钟）
    s Specimen preparation for TEM2 （35分钟）
    s Electron diffraction （42分钟）
    s Electron diffraction2 （43分钟）
    s Electron diffraction3 （38分钟）
    s Electron diffraction4 （43分钟）
    s Electron diffraction5 （41分钟）
    s Electron diffraction6 （44分钟）
    s Electron diffraction7 （42分钟）
    s Kikuchi Line （39分钟）
    s Image contrast （43分钟）
    s Diffraction contrast （44分钟）
    s Diffraction contrast2 （43分钟）
    s Diffraction contrast3 （37分钟）
    s Diffraction contrast4 （42分钟）
    第四章
    s Home Work （39分钟）
    s 相差和高分辨率的电子显微镜 （42分钟）
    s 相差和高分辨率的电子显微镜2 （43分钟）
    s X-ray microanalysis （42分钟）
    s X-ray microanalysis2 （42分钟）
    s Phase contrast and high resolution TEM （42分钟）
    s X-ray microanalysis （42分钟）
    s Atom Probe Field Ion Microscopy （44分钟）
    s Atom Probe Field Ion Microscopy2 （48分钟）
    桂ICP备2022010207号 　　
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